产品介绍
emid 1m电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(gb/t 17626.4、iec 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20 db以上。也可用于1 mhz以上干扰信号的衰减,衰减系数大于10 db(与信号频率有关)。本产品采用卡扣式结构,可以直接套在待去耦的线缆上,使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。
附图:emid 1m电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图
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